美國TSI P-TRAK超細粒子計數(shù)器TSI 8525

美國TSI P-TRAK超細粒子計數(shù)器TSI 8525

美國TSI P-TRAK超細粒子計數(shù)器TSI 8525型可檢測直徑小于0.1微米的粒子，并對其進行計數(shù)。一般認為，這一部分微粒常常伴隨著污染物的存在，因此可以通過 P-TRAK^TM的檢測對污染源進行標識。無論是明顯的污染源 (如鍋爐、機動車輛) 還是非明顯污染源(如復印機、打印機)都很難在 P-TRAK^TM 眼前蒙混過關，它可以成功地鑒別有毒氣體的遷移、具有污染問題的辦公設施、生產車間、鍋爐墊圈的泄漏等許多問題。

      超細粒子所引起 IAQ 的問題

      超細粒子是指粒徑小于0.1um 的顆粒。一定量空氣中的超細粒子（UFPs ）數(shù)量濃度比例很高，然而其質量濃度只有很少的份額。愈來愈多的研究顯示超細粒子（UFPs）與健康有非常密切的關系。在數(shù)以千計的建筑物內空氣質量(IAQ)調查中空氣質量問題都與超細粒子（UFPs）有關。

      “1000 萬個 10nm 粒子的質量僅與 1 個 10um 的粒子質量相同”

      超細粒子(UFPs)通常是燃燒和化學反應的產物。這些粒子可能在室內或室外產生，源頭包括機動車排放，生產過程，吸煙，清洗劑，辦公設備等。

 

      超細粒子(UFPs)會隨著空氣的流動而發(fā)生遷徙或從高壓流向低壓區(qū)域。P-Trak 可以快速尋找到污染源。